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　　測定限（limit of determination）為定量范圍的兩端，分別為測定上限與測定下限。

　　1、測定下限

　　在測定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下，用特定方法能準(zhǔn)確地定量測定待測物質(zhì)的zui小濃度或量，稱為該方法的測定下限。
　　測定下限反映出分析方法能準(zhǔn)確地定量測定低濃度水平待測物質(zhì)的極限可能性。在沒有（或消除了）系統(tǒng)誤差的前提下，它受精密度要求的限制（精密度通常以相對標(biāo)準(zhǔn)偏差表示）。分析方法的精密度要求越高，測定下限高于檢出限越多。
　　美國EPA SW-846規(guī)定4MDL為定量下限（RQL ），即4倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差約為10%。日本JIS規(guī)定定量下限為10倍的MDL。

　　2、測定上限

　　在限定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下，用特定方法能夠準(zhǔn)確地定量測量待測物質(zhì)的zui大濃度或量，稱為該方法的測定上限。
　　對沒有（或消除了）系統(tǒng)誤差的特定分析方法的精密度要求不同，測定上限也將不同。文章由華晨儀器整理。